產品信息
熱測試系統
商品名稱：平面紅外熱成像測試系統
商品編號：
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詳細信息
技術特點：
Ø 全場動態輻射測溫：整個溫度場/實時動態/非接觸式
Ø 高精度測溫：黑體實時標定/局部輻射率補償/圖像精度補償
Ø 溫度趨勢分析：實時和事后顯示任意點溫度變化的時間（步長小于0.1s）--溫度曲線
Ø 高清晰成像：高分辨率/可見光圖像增強/前后景處理
Ø 靈活便攜：測量空間大/操作靈活/具便攜性
指標：
Ø 溫度分辨率：0.060C（環境溫度300C）
Ø 測溫精度：±0.30C
Ø 測溫范圍：-100C～2000C
Ø 最小分辨距離：0.5mm
Ø 最大測量范圍：1000×1000mm
Ø 環境補償：手動/自動
Ø 圖象記錄采樣頻率：不小于10Hz
適用范圍：
Ø 芯片級、PCB板級、整機級電子設備的熱測試
